机译:稀土金属对n沟道金属氧化物半导体器件应用中的全硅化栅极/高k电介质堆叠的有效功函数调制的作用
机译:低于400 $ ^ {circ} {rm C}〜{rm Si} _ {2} {rm H} _ {6} $钝化层,$ {rm HfO} _ {2} $栅介质和单TaN金属栅:用于$ {rm In} _ {0.7} {rm Ga} _ {0.3} {rm As} $和$ {rm Ge} _ {1-x} {rm Sn} _ {x} $的通用栅极堆叠技术CMOS
机译:金属-纳米晶体双层存储栅堆叠中的新泄漏机理和介电击穿层检测
机译:单金属/单介电栅极堆栈实现嵌入式内存应用三重有效工作功能
机译:用于非易失性浮栅和电阻开关存储应用的金属氧化物电介质的研究。
机译:HfO2 / SiO2叠层隧道电介质的SiN薄膜中离子注入能量对Ge纳米晶体合成的影响
机译:用于改进的模拟应用的MOSFET(AGSTMGAAFET)周围的非对称闸门三重金属门的亚阈值分析模型
机译:单链烷烃嵌入大鼠脑切片中map-2,Fluoro-Jade和DapI三重标记方案的制定