机译:Z1 / 2,EH5和Ci1深缺陷对n型4H-SiC外延层肖特基探测器性能的影响:α光谱和深能级瞬变光谱研究
机译:Z_(1/2),EH_5和CM深缺陷对n型4H-SiC外延层肖特基探测器性能的影响:阿尔法光谱和深能级瞬态光谱研究
机译:出版商的注释:“ n型4H-SiC外延层上低能量范围内的高灵敏度X射线探测器” [Appl。物理来吧101,051111(2012)]
机译:使用4H-SiC n型外延层制造高分辨率核检测器
机译:基于4H-SiC N型外延层和像素Cdznte单晶装置的高分辨率辐射检测器
机译:4H-SiC外延层器件在高分辨率辐射检测中的进展
机译:高能量X射线探测器在N型4H-SIC外延层上的低能量范围内