thin film; morphology; AFM; ellipsometer;
机译:通过单次透射测量确定薄膜光学常数的方法:严格的审查
机译:无效厚度方法的推导,用于研究纳米结构薄膜中光学跃迁的确切行为
机译:通过温度,结构,光学和电子性质的测量观察掺钨Sb2Te相变薄膜中的中间相
机译:用椭偏仪验证QZ毛坯上薄膜准确变化的新光学测量方法
机译:通过扫描热探针法对非接触式和接触式探针与样品之间的热交换进行分析,以定量测量薄膜和纳米结构的热导率。
机译:使用薄膜硅光电探测器阵列从离体人类结肠组织的漫反射测量中提取光学特性的方法
机译:用于同时测量质量变化,光学透射率和薄膜反射的装置
机译:用于同时测量质量变化,光学传输和薄膜反射的装置