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王学华; 薛亦渝; 曹宏;
武汉化工学院,材料科学与工程学院,武汉,430073;
武汉理工大学,材料科学与工程学院,武汉,430070;
椭圆偏振仪; 薄膜光学常数; 薄膜折射率; 薄膜厚度; MathCAD;
机译:椭圆偏振光谱仪研究ZnSe / SiO2 sub>复合薄膜的光学常数
机译:用分光光度法和椭圆偏振光度法测定ZnTe和ZnS薄膜的光学常数和膜厚
机译:椭圆偏振光谱和紫外可见光谱法测定Pb0.95La0.05Zr0.54Ti0.46O3薄膜的光学常数和带隙
机译:通过成像光谱反射仪同时测定薄膜的光学常数,局部厚度和局部粗糙度
机译:光谱反射法和椭圆偏振法测定固体薄膜的光学性能
机译:具有高表面粗糙度的薄膜:使用椭圆偏振光谱仪进行厚度和介电函数分析
机译:直流溅射的光学常数来源于ITO,TiO2和TiO2:Nb薄 用分光光度法和光谱椭偏仪测定的薄膜 光电器件
机译:Gaertner L119椭圆偏振仪及其在薄膜测量中的应用
机译:光学常数测定方法及光学常数测定装置
机译:椭圆偏振法和表面等离子体共振在监测薄膜沉积或从基材表面去除中的应用
机译:结合使用振荡装置和椭圆偏振法来确定不相关的有效厚度和沉积在工作电极上或从工作电极上蚀刻的材料的光学常数,这些材料最好包含非法向取向的纳米纤维
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