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Optical systems design 2015: optical fabrication, testing, and metrology V
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1.
Advances in corneal topography measurements with conical null-screens
机译:
锥形无屏技术在角膜地形测量中的进展
作者:
Manuel Campos-Garcial
;
Cesar Cossio-Guerrero
;
Oliver Huerta-Carranza
;
Victor Ivan Moreno-Oliva
会议名称:
《Optical systems design 2015: optical fabrication, testing, and metrology V》
|
2015年
关键词:
Null-screen;
Corneal Topography;
Aspherics;
Surface Measurements;
Optical Metrology;
2.
Contribution to the standardization of 3D measurements using a high-resolution PMD camera
机译:
使用高分辨率PMD摄像机为3D测量的标准化做出贡献
作者:
Henrik Lietz
;
Joerg Eberhardt
会议名称:
《Optical systems design 2015: optical fabrication, testing, and metrology V》
|
2015年
关键词:
Standardization;
applied optical metrology;
3D camera;
PMD camera;
super-resolution;
resolution enhancement;
resolution evaluation;
3.
Design and development of a profilometer for the fast and accurate characterization of optical surfaces
机译:
用于快速,准确表征光学表面的轮廓仪的设计和开发
作者:
Jose A. Gomez-Pedrero
;
Diego Rodriguez-Ibanez
;
Jose Alonso
;
Juan A. Quiroga
会议名称:
《Optical systems design 2015: optical fabrication, testing, and metrology V》
|
2015年
关键词:
Profilometry;
optical surfaces;
accuracy;
free-form optics;
4.
Two-dimensional thickness measurement using acousto-optically tuned external-cavity laser diode
机译:
使用声光调谐外腔激光二极管进行二维厚度测量
作者:
Takamasa Suzuki
;
Shingo Abe
;
Samuel Choi
会议名称:
《Optical systems design 2015: optical fabrication, testing, and metrology V》
|
2015年
关键词:
Swept source;
external-cavity laser diode;
optical coherence tomography;
5.
Multilevel Micro-Structuring of Glassy Carbon Molds for Precision Glass Molding
机译:
精密玻璃成型用玻璃碳模具的多级微结构
作者:
Karin Prater
;
Julia Dukwen
;
Toralf Scharf
;
Hans Peter Herzig
;
Sven Ploeger
;
Andreas Hermerschmidt
会议名称:
《Optical systems design 2015: optical fabrication, testing, and metrology V》
|
2015年
关键词:
Diffractive optical element;
multilevel;
glass molding;
glassy carbon;
reactive ion etching;
rigorous coupled wave analysis;
6.
Replication and subdivision of chromium nano-grating in atom lithography
机译:
原子光刻中铬纳米光栅的复制和细分
作者:
Xiao Deng
;
Jie Chen
;
Jie Liu
;
Yan Ma
;
Xinbin Cheng
;
Tongbao Li
会议名称:
《Optical systems design 2015: optical fabrication, testing, and metrology V》
|
2015年
关键词:
Atom lithography;
Metrology;
Atomic force microscope;
Material removal;
Gravity centre method;
7.
Enhancement of RIE - etched Diffractive Optical Elements surfaces by using Ion Beam Etching
机译:
利用离子束刻蚀增强RIE刻蚀的衍射光学元件表面。
作者:
J.Schmitt
;
Ch.Bischoff
;
U.Raedel
;
M.Grau
;
U.Wallrabe
;
F.Voelklein
会议名称:
《Optical systems design 2015: optical fabrication, testing, and metrology V》
|
2015年
关键词:
Diffractive Optical Elements;
surface roughness;
Reactive Ion Etching;
Ion Beam Etching;
diffraction efficiency;
fused silica;
optical surface;
simulation;
8.
Diffractive optical elements made from metamaterials
机译:
由超材料制成的衍射光学元件
作者:
Thomas Pertsch
;
Benny Walther
;
Stefan Fasold
;
Matthias Falkner
;
Christoph Menzel
;
Isabelle Staude
;
Carsten Rockstuhl
会议名称:
《Optical systems design 2015: optical fabrication, testing, and metrology V》
|
2015年
关键词:
Diffractive optics;
holograms;
metamaterials;
metasurfaces;
plasmonics;
nanomaterials;
9.
In-line metrology setup for periodic nanostructures based on sub-wavelength diffraction
机译:
基于亚波长衍射的周期性纳米结构在线计量设置
作者:
Martin Kreuzer
;
Jordi Gomis Bresco
;
Marianna Sledzinska
;
Clivia M. Sotomayor Torres
会议名称:
《Optical systems design 2015: optical fabrication, testing, and metrology V》
|
2015年
关键词:
dimensional metrology;
scatterometry;
process monitoring;
light diffraction;
subwavelength diffraction;
gratings;
10.
Characterization of Mo/Si mirror interface roughness for different Mo layer thickness using resonant diffuse EUV scattering
机译:
使用共振扩散EUV散射表征不同Mo层厚度的Mo / Si镜界面粗糙度
作者:
Anton Haase
;
Victor Soltwisch
;
Frank Scholze
;
Stefan Braun
会议名称:
《Optical systems design 2015: optical fabrication, testing, and metrology V》
|
2015年
关键词:
resonant diffuse scattering;
dynamic effects;
power spectral density;
EUV;
diffuse scattering;
11.
Inkjet printed single-mode waveguides on hot-embossed foils
机译:
热压箔上的喷墨印刷单模波导
作者:
Meike Hofmann
;
Yanfen Xiao
;
Stanislav Sherman
;
Patrick Bollgruen
;
Thomas Schmidt
;
Uwe Gleissner
;
Hans Zappe
会议名称:
《Optical systems design 2015: optical fabrication, testing, and metrology V》
|
2015年
关键词:
Integrated optics;
Polymer waveguides;
Inkjet printed waveguides;
12.
Fabrication and testing of STREEGO: a compact optical payload for earth observation on small satellites
机译:
STREEGO的制造和测试:一种紧凑的光学有效载荷,用于在小型卫星上进行地球观测
作者:
Massimiliano Rossi
;
Ivan Ferrario
;
Riccardo Ghislanzoni
;
Piet Holbrouck
;
Antonio Ritucci
;
Matteo Taccola
;
Marco Terraneo
;
Fabio E. Zocchi
会议名称:
《Optical systems design 2015: optical fabrication, testing, and metrology V》
|
2015年
关键词:
Space Optics;
Earth Observation;
TMA;
Multispectral;
Optical Manufacturing;
System Integration;
13.
The challenge of developing thin mirror shells for future X-ray telescopes
机译:
为未来的X射线望远镜开发薄镜壳所面临的挑战
作者:
Thorsten Doehring
;
Manfred Stollenwerk
;
Qingqing Gong
;
Laura Proserpio
;
Anita Winter
;
Peter Friedrich
会议名称:
《》
|
2015年
关键词:
X-ray optics;
segmented glass;
lightweight mirrors;
glass slumping;
X-ray telescope;
Iridium coating;
14.
Highly sensitive displacement measurement utilizing the wavelength interrogation
机译:
利用波长询问进行高度灵敏的位移测量
作者:
J. Militky
;
M. Kadulova
;
D. Ciprian
;
P. Hlubina
会议名称:
《Optical systems design 2015: optical fabrication, testing, and metrology V》
|
2015年
关键词:
spectral interferometry;
Michelson interferometer;
birefringent quartz;
channeled spectrum;
envelope;
displacement;
wavelength interrogation;
sensitivity;
15.
Wide spectral range characterization of antireflective coatings and their optimization
机译:
抗反射涂层的宽光谱范围表征及其优化
作者:
Daniel Franta
;
David Necas
;
Ivan Ohlidal
;
Jiri Jankuj
会议名称:
《Optical systems design 2015: optical fabrication, testing, and metrology V》
|
2015年
关键词:
antireflective coatings;
optical thin films;
ellipsometry;
spectrophotometry;
16.
Measuring and Quantifying Scatter from a Variety of Sample Types
机译:
测量和量化来自各种样本类型的散布
作者:
John C. Stover
会议名称:
《Optical systems design 2015: optical fabrication, testing, and metrology V》
|
2015年
关键词:
BRDF;
BSDF;
BTDF;
DSC;
non-isotropic surfaces;
defect scatter;
edge scatter;
17.
Facility for fast Mapping of Total Scattering and Transmission in the Spectral Range from DUV- NIR
机译:
DUV-NIR在光谱范围内快速映射总散射和透射的工具
作者:
P. Kadkhoda
;
L. Jensen
;
D. Ristau
会议名称:
《Optical systems design 2015: optical fabrication, testing, and metrology V》
|
2015年
关键词:
Total Scattering;
ISO 13696;
Transmission;
Defect detection;
DUV spectral range;
18.
A developed method for surface testing based on the scattering interference effect
机译:
一种基于散射干涉效应的表面测试方法
作者:
Zhongqi Tan
;
Yun Huang
;
Suyong Wu
;
Xiaobao Zhang
;
Yibo Zhang
会议名称:
《Optical systems design 2015: optical fabrication, testing, and metrology V》
|
2015年
19.
Results of a polishing study for SCHOTT XLD glasses
机译:
肖特XLD眼镜的抛光研究结果
作者:
Ralf Jedamzik
;
Harshwadhan Yadwad
;
Volker Dietrich
会议名称:
《Optical systems design 2015: optical fabrication, testing, and metrology V》
|
2015年
关键词:
Fluorophosphate glasses;
N-FK58;
XLD;
polishing;
workability;
20.
Reducing the Cycle Time of Cementing Processes for High Quality Doublets
机译:
减少高质量双胶固井工艺的周期时间
作者:
C. Wilde
;
F. Hahne
;
P. Langehanenberg
;
J. Heinisch
会议名称:
《Optical systems design 2015: optical fabrication, testing, and metrology V》
|
2015年
关键词:
cementing;
doublet;
autocollimation;
actuator;
center of curvature;
alignment;
centration;
optical axis;
21.
Surface assessment and mitigation of DUV optics
机译:
DUV光学器件的表面评估和缓解
作者:
Jue Wang
会议名称:
《Optical systems design 2015: optical fabrication, testing, and metrology V》
|
2015年
关键词:
CaF_2;
subsurface damage;
surface contamination;
color center;
ArF laser optics;
22.
V-block refractometer for monitoring the production of optical glasses
机译:
V型折光仪,用于监控光学眼镜的生产
作者:
Uwe Petzold
;
Ralf Jedamzik
;
Peter Hartmann
;
Steffen Reichel
会议名称:
《Optical systems design 2015: optical fabrication, testing, and metrology V》
|
2015年
关键词:
refractometry;
optical glasses;
refractive index;
Abbe number;
23.
Sensitivity of null testing for a local deformation
机译:
零变形对局部变形的敏感性
作者:
A. Munoz Potosi
;
L. G. Valdivieso-Gonzalez
;
R. Diaz Uribe
;
M. Campos Garcia
;
F. Granados Agustin
会议名称:
《Optical systems design 2015: optical fabrication, testing, and metrology V》
|
2015年
关键词:
optical surfaces;
deflectometry;
local deformation;
spherical surfaces;
24.
Absolute testing of flats in sub-stitching interferometer by rotation-shift method
机译:
旋转位移法在亚缝干涉仪中对平板进行绝对测试
作者:
Jia Xin
;
Xu fuchao
;
Xie weimin
;
Li yun
;
Xing tingwen
会议名称:
《Optical systems design 2015: optical fabrication, testing, and metrology V》
|
2015年
关键词:
Metrology;
Optical Testing;
Absolute Testing;
Sub-stitching;
25.
Improved cavity ring-down system for high precision measurement of the specific modes' loss in ring cavity
机译:
改进的腔衰荡系统,用于高精度测量环形腔中特定模式的损耗
作者:
Wenbo Jiang
;
Meixiong Chen
;
Wei Tian
;
Jie Yuan
;
Guangmin Xu
会议名称:
《Optical systems design 2015: optical fabrication, testing, and metrology V》
|
2015年
关键词:
Ring cavity;
cavity ring-down technique;
specific modes' loss;
high precision measurement;
26.
Sinusoidal frequency modulation on laser diode for frequency stabilization and displacement measuring interferometry
机译:
激光二极管上的正弦频率调制,用于频率稳定和位移测量干涉法
作者:
Masato AKETAGAWA
;
Thanh-Tung VU
;
Ryo YAMAZAKI
会议名称:
《Optical systems design 2015: optical fabrication, testing, and metrology V》
|
2015年
关键词:
modulation;
frequency stabilization;
laser diode;
iodine;
absorption;
interferometer;
27.
Analysis of defects on the slopes on a parabolic trough solar collector with null-screens
机译:
零屏抛物槽式太阳能集热器边坡缺陷分析
作者:
Manuel Campos-Garcia
;
Oliver Huerta-Carranza
;
Rufino Diaz-Uribe
;
Victor Ivan Moreno-Oliva
会议名称:
《Optical systems design 2015: optical fabrication, testing, and metrology V》
|
2015年
关键词:
Null-Screen;
Optical Metrology;
Concentrators;
Aspherics;
28.
An automated calibration system that combines fringe projection and 2D digital image correlation
机译:
结合条纹投影和2D数字图像相关性的自动校准系统
作者:
Philip Siegmann
;
Luis A. Felipe-Sese
;
Franciasco Diaz-Garrido
;
Jose Pineiro-Ave
会议名称:
《Optical systems design 2015: optical fabrication, testing, and metrology V》
|
2015年
关键词:
Fringe projection;
digital image correlation;
in- and out-of-plane displacements;
full-field measurements;
real-time measurements;
color encoding;
29.
3D printed freeform optical sensors for metrology application
机译:
用于计量应用的3D打印自由形式光学传感器
作者:
P. Maillard
;
A. Heinrich
会议名称:
《Optical systems design 2015: optical fabrication, testing, and metrology V》
|
2015年
30.
Optical design and laser ablation of surface textures: demonstrating total internal reflection
机译:
光学设计和表面纹理的激光烧蚀:展示了全内反射
作者:
Hans Gommans
;
Silvia Booij
;
Fetze Pijlman
;
Marcel Krijn
;
Siebe de Zwart
;
Ruslan Sepkhanov
;
Dave Beaumont
;
Hans van der Schaft
;
Rene Sanders
会议名称:
《Optical systems design 2015: optical fabrication, testing, and metrology V》
|
2015年
关键词:
surface textures;
excimer laser ablation;
photo mask design;
total internal reflection;
BSDF;
TIR-Fresnel lens;
31.
Process Control in Optical Fabrication
机译:
光学制造中的过程控制
作者:
Oliver Faehnle
会议名称:
《Optical systems design 2015: optical fabrication, testing, and metrology V》
|
2015年
32.
Dispersion model for optical thin films applicable in wide spectral range
机译:
适用于宽光谱范围的光学薄膜色散模型
作者:
Daniel Franta
;
David Necas
;
Ivan Ohlidal
;
Angelo Giglia
会议名称:
《Optical systems design 2015: optical fabrication, testing, and metrology V》
|
2015年
关键词:
optical constants;
optical thin films;
ellipsometry;
spectrophotometry;
33.
Simultaneous determination of optical constants, local thickness, and local roughness of thin films by imaging spectroscopic reflectometry
机译:
通过成像光谱反射仪同时测定薄膜的光学常数,局部厚度和局部粗糙度
作者:
David Necas
;
Ivan Ohlidal
;
Jiri Vodak
;
Miloslav Ohlidal
;
Daniel Franta
会议名称:
《Optical systems design 2015: optical fabrication, testing, and metrology V》
|
2015年
关键词:
thin films;
roughness;
scalar diffraction theory;
Rayleigh-Rice theory;
spectrophotometry;
ellipsometry;
imaging techniques;
zinc selenide;
34.
Precision optical device of Freeform defects inspection
机译:
Freeform缺陷检查的精密光学装置
作者:
S. Meguellati
会议名称:
《Optical systems design 2015: optical fabrication, testing, and metrology V》
|
2015年
关键词:
instrumentation;
Optical metrology;
non-destructive control;
moire topography;
moire technique;
gratings;
35.
Optical surfaces for high power laser coatings
机译:
大功率激光镀膜的光学表面
作者:
Lars O. Jensen
;
Detlev Ristau
会议名称:
《Optical systems design 2015: optical fabrication, testing, and metrology V》
|
2015年
关键词:
laser-induced damage;
surface roughness;
subsurface damage;
36.
Analysis of factors important for measurements of focal length of optical systems
机译:
分析对测量光学系统焦距很重要的因素
作者:
P. Pokorny
;
J. Opat
;
A. Miks
;
J. Novak
;
P. Novak
会议名称:
《Optical systems design 2015: optical fabrication, testing, and metrology V》
|
2015年
关键词:
Focal length measurement;
wavefront aberrations;
ray aberrations;
uncertainty analysis;
37.
Flow-cytometric identification of vinegars using a multi-parameter analysis optical detection module
机译:
使用多参数分析光学检测模块对醋进行流式细胞术鉴定
作者:
T. Verschooten
;
H. Ottevaere
;
M. Vervaeke
;
J. Van Erps
;
M. Callewaert
;
W. De Malsche
;
H. Thienpont
会议名称:
《Optical systems design 2015: optical fabrication, testing, and metrology V》
|
2015年
关键词:
absorption;
laser-induced-fluorescence;
scattering;
turbidity;
viscosity;
vinegar;
optofluidics;
multi-measurement analysis;
38.
The Absolute Radiometric Calibration Facility ARCF 2.0 at TNO
机译:
TNO的绝对辐射校准设施ARCF 2.0
作者:
B. Guer
;
G. Otter
;
R. Jansen
;
J. Groote-Schaarsberg
;
S. Brinkers
会议名称:
《Optical systems design 2015: optical fabrication, testing, and metrology V》
|
2015年
关键词:
BSDF;
Diffuser;
Radiometric Calibration;
39.
Scattermeter for measurement of solar cells
机译:
散射仪,用于测量太阳能电池
作者:
Pavel Nadasky
;
Jakub Klus
;
Jiri Vodak
;
Stepan Sustek
;
Miloslav Ohlidal
会议名称:
《Optical systems design 2015: optical fabrication, testing, and metrology V》
|
2015年
关键词:
Scattermeter;
scattering of electromagnetic radiation;
solar cells;
40.
Possibilities and limitations of imaging spectroscopic reflectometry in optical characterization of thin films
机译:
成像光谱反射计在薄膜光学表征中的可能性和局限性
作者:
Miloslav Ohlidal
;
Ivan Ohlidal
;
David Necas
;
Jiri Vodak
;
Daniel Franta
;
Pavel Nadasky
;
Frantisek Vizda
会议名称:
《Optical systems design 2015: optical fabrication, testing, and metrology V》
|
2015年
关键词:
Imaging spectroscopic reflectometry;
non-uniform thin films;
optical parameters;
41.
Manufacturing and Testing Large SiC Mirrors in an Efficient Way
机译:
高效制造和测试大型SiC镜
作者:
Xuejun Zhang
;
Xuefeng Zeng
;
Haixiang Hu
;
Xiao Luo
会议名称:
《Optical systems design 2015: optical fabrication, testing, and metrology V》
|
2015年
关键词:
SiC mirrors;
deterministic polishing;
CGH;
42.
Mechanical Design Implementation and Mathematical Considerations for Ultra Precise Diamond Turning of Multiple Freeform Mirrors on a Common Substrate
机译:
共同基板上多个自由曲面镜的超精密金刚石车削的机械设计实现和数学考虑
作者:
Johannes Hartung
;
Matthias Beier
;
Thomas Peschel
;
Andreas Gebhardt
;
Stefan Risse
会议名称:
《Optical systems design 2015: optical fabrication, testing, and metrology V》
|
2015年
关键词:
Mechanical Design;
Numerical Analysis;
Diamond Machining;
43.
Use of a NOM profilometer to measure large aspheric surfaces
机译:
使用NOM轮廓仪测量大的非球面
作者:
John L. Pearson
;
Gareth W. Roberts
;
Paul C.T. Rees
;
Samantha J. Thompson
会议名称:
《Optical systems design 2015: optical fabrication, testing, and metrology V》
|
2015年
关键词:
nanometer optical measuring machine;
NOM;
non-contact;
profilometry;
on-machine metrology;
aspheric surfaces;
44.
Current developments on optical asphere and freeform metrology
机译:
光学非球面和自由形式计量学的最新发展
作者:
S. Muehlig
;
J. Siepmann
;
M. Lotz
;
A. Wiegmann
;
G. Blobel
;
S. Mika
;
A. Beutler
;
U. Nehse
会议名称:
《Optical systems design 2015: optical fabrication, testing, and metrology V》
|
2015年
关键词:
Twyman-Green interferometer;
White light interferometry;
High accuracy cylinder coordinate measuring machine;
Tilted wave interferometer;
Asphere and freeform measurement;
45.
Conversion of radius of curvature to power (and vice versa)
机译:
曲率半径到功率的转换(反之亦然)
作者:
Sven Wickenhagen
;
Kazumasa Endo
;
Ulrike Fuchs
;
Richard N. Youngworth
;
Sven R. Kiontke
会议名称:
《Optical systems design 2015: optical fabrication, testing, and metrology V》
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2015年
关键词:
ISO 10110;
power;
radius tolerance;
form measurement;
tolerancing;
conversion;
guideline;
46.
The measurement of an aspherical mirror by three-dimensional Nanoprofiler
机译:
三维纳米轮廓仪测量非球面镜
作者:
Yusuke Tokuta
;
Kenya Okita
;
Kohei Okuda
;
Takao Kitayama
;
Motohiro Nakano
;
Shun Nakatani
;
Ryota Kudo
;
Kazuya Yamamura
;
Katsuyoshi Endo
会议名称:
《Optical systems design 2015: optical fabrication, testing, and metrology V》
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2015年
关键词:
Aspherical figure;
free-form;
Nanoprofiler;
direct measurement;
non-contact measurement;
normal vector;
figure error;
interferometer;
47.
Effective method for extracting aspheric parameters inherent in unknown aspheric surfaces
机译:
提取未知非球面固有的非球面参数的有效方法
作者:
Dong-Ik Kim
;
Ghiseok Kim
;
Geon Hee Kim
会议名称:
《Optical systems design 2015: optical fabrication, testing, and metrology V》
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2015年
关键词:
Aspheric surface;
conic constant;
deformation coefficient;
curve fitting;
48.
Two-dimension lateral shearing interferometry with dual-mode
机译:
二维双模横向剪切干涉仪
作者:
Zhixiang Liu
;
Tingwen Xing
;
Yadong Jiang
;
Baobin Lv
;
Fuchao Xu
会议名称:
《Optical systems design 2015: optical fabrication, testing, and metrology V》
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2015年
关键词:
lateral shearing interferometer;
chessboard grating;
phase shifting method;
Fourier transform method;
wavefront metrology;
49.
Compact low-cost lensless digital holographic microscope for topographic measurements of microstructures in reflection geometry
机译:
紧凑型低成本无透镜数字全息显微镜,用于在反射几何学中对微观结构进行形貌测量
作者:
A. Adinda-Ougba
;
B. Kabir
;
N. Koukourakis
;
F. Mitschker
;
N. C. Gerhardt
;
M. R. Hofmann
会议名称:
《Optical systems design 2015: optical fabrication, testing, and metrology V》
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2015年
关键词:
lensless microscopy;
digital holography;
phase imaging;
profile measurement;
fault detection;
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