机译:具有横向双门的高性能超薄体超薄盒绝缘体MOSFET分析:具有DIBL的抑制
机译:盒厚度,硅厚度和靠背偏置对ET-SOI MOSFETS的影响
机译:完全耗尽的SOI MOSFET中由于SOI厚度变化引起的阈值电压波动的抑制
机译:通过控制BOX层的介电常数和厚度来抑制十纳米SOI MOSFET中的DIBL
机译:元素堆积顺序和层厚在控制二硒化铜铟形成动力学中的重要性。
机译:开式同轴探针的薄层厚度和介电常数的组合测量
机译:具有横向双门的高性能超薄体超薄盒绝缘体MOSFET的分析:具有DIBL的抑制