AIGaN; alloy; energy dispersive X-ray; X-ray diffraction; Vegard's law.;
机译:ZnO:Al,Bi和ZnO:Ga,Bi薄膜的RB,XPS和EDX的组成分析。 磁控溅射
机译:重离子ERDA,标准RBS,EDX和AES对SiO_xN_y:H薄膜的成分分析:比较
机译:Sn_(1_x)Fe_xO_2薄膜的结构,光学和室温铁磁性能的快速蒸发技术
机译:借助于EDX和XSRD技术测定Al Al Al组分α-(1_X)N薄膜的薄膜
机译:通过发光光谱和X射线衍射测定在6H-SiC(0001)衬底上生长的GaN和Al(x)Ga(1-x)N薄膜的应变和组成。
机译:薄膜技术漫射梯度在预浓度中的热分解金胺胺胺化原子吸收光谱法测定鱼酱中的汞
机译:利用DET(薄膜中的扩散平衡)和DGT(薄膜中的扩散梯度)技术测定Rupel河(比利时)沉积物中痕量金属的高分辨率孔隙水分布
机译:扫描X射线衍射:一种具有高成分分辨率的技术,用于研究共沉积薄膜中的相形成