机译:内存密集型消费类应用中用于Dram封装堆叠的铜触点互连的热特性
机译:通过减少低于60 nm DRAM器件中钨双多晶硅栅极堆叠上的工艺驱动的热应力,减少自对准接触故障的工艺设计
机译:用于铜互连的“ Ultrathin-Cu” / Ru(Ta)/ TaN衬里层堆叠的特性
机译:DRAM包堆叠铜接触互连的热表征 - (PPT)
机译:电子封装的热变形以及封装对铜/低k互连结构的可靠性的影响。
机译:用于低延迟和低功耗3D堆叠DRAM的DRAM中缓存管理
机译:sOFC堆栈中互连的计算有效热机械建模,包括接触效应
机译:光学引导基板,用于堆叠多芯片模块和芯片级封装中的低成本光互连