atomic force microscopy; electroless deposition; ellipsometry; metallic thin films; palladium; silicon; surface roughness; AFM measurement; Pd particle distribution; PdCl/sub 2/HF; continuous Pd film; effective medium theory; electroless deposition; electrolytic bath;
机译:沉积温度对在硅基板上生长的SnS薄膜性能的影响-与在玻璃基板上生长的膜的结构和光学性质的比较研究
机译:氢气氛下退火的硅基底上纳米钯薄膜的光学和表面形态表征
机译:高温磁控溅射在硅,石英和蓝宝石基板上生长的高质量VO2薄膜的合成,结构和光学性能:通过过渡温度的性能
机译:化学镀在硅衬底上生长的纳米钯薄膜的光学性能研究
机译:分子束外延在硅上生长的锗薄膜的形态演化与光学性质
机译:在SrRuO3缓冲的SrTiO3衬底上生长的外延BiFeO3薄膜的光学性质
机译:硅基衬底热解型光致抗蚀剂膜上无电解层钯纳米粒子的制备与表征
机译:衬底温度和氢稀释比对热线化学气相沉积法生长纳米硅薄膜性能的影响