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The morphological evolution and optical properties of germanium thin films grown on silicon by molecular beam epitaxy

机译：分子束外延在硅上生长的锗薄膜的形态演化与光学性质

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作者
Deelman, Peter Wessel;
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作者单位

Rensselaer Polytechnic Institute;

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授予单位 Rensselaer Polytechnic Institute;
学科
学位 Ph.D.
年度 1996
页码 118 p.
总页数 118
原文格式 PDF
正文语种 eng
中图分类 AAI9806078;
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