MOSFET; interface states; dangling bonds; energy gap; broad energy distribution; NBTI-induced interface states; p-MOSFETs; ultra-thin nitrided oxide; conduction band edge; states near mid-gap; negative-bias-temperature instability; pure SiO/sub 2/; bulk neutral traps; SiO/sub 2/;
机译:超薄SiON缓冲层上具有HfO {sub} 2栅极电介质的n和p-MOSFET中界面陷阱的不对称能量分布
机译:用于金属氧化物半导体场效应晶体管应用的氮化和纯栅极电介质中界面态能量分布的提取
机译:对可靠的四位/单元操作的氧化硅-氮化物-氧化硅-硅器件漏极区附近的局部陷获电荷和界面态分布的直接观察
机译:具有超薄氮化物的p-MOSFET中NBTI诱导的界面态的宽能量分布
机译:纳米N沟道和P沟道金属氧化物半导体场效应晶体管的超薄氧化物和氮化物/氧化物堆叠的栅极电介质研究
机译:过渡路径时间的广泛分布是底层自由能景观的多征的指纹
机译:响应“关于”超薄金属氧化物半导体结构“Appl”中的Si / SiO2接口捕集能量分布的“评论”的响应。物理。吧。 81,3681(2002)
机译:再氧化氮化物氧化物p-mOsFET的通道热载流子应力