cellular automata; logic testing; failure analysis; fault diagnosis; quantum gates; semiconductor quantum dots; semiconductor device testing; quantum dot cellular automata defects; logic level testing; CMOS based designs; majority voter; logic element;
机译:量子点元胞自动机中的新型容错多数门通过物理验证掀起了容错纳米结构设计的革命
机译:使用量子点元胞自动机的异或非门的缺陷,故障特征及实现
机译:基于具有自组装量子点层的半导体隧穿纳米结构的多功能边缘驱动纳米尺度细胞自动机
机译:纳米尺度量子细胞自动机的缺陷和缺陷
机译:容错量子点元胞自动机多数门设计。
机译:量子点细胞自动机中可逆逻辑门的能量耗散数据集
机译:纳米尺度下量子元自动机的缺陷与缺陷