机译:外部偏置对低温下部分耗尽的SOI N-MOSFET的热载流子退化的影响
机译:0.25μm部分和完全耗尽的SOI N-MOSFET的热载流子引起的退化概述
机译:2-MeV电子辐照对部分耗尽的SOI n-MOSFET的背栅退化的影响
机译:外部体偏压对低温温度下部分耗尽的SOI N-MOSFET的热载体劣化的影响
机译:部分耗尽的SOI CMOS中的辐射硬化模拟电路。
机译:通过在部分再结晶的VCrMnFeCoNi高熵合金中利用室温变形孪晶来提高低温强度
机译:在改进的晶片上制造的130nm部分耗尽的SOI PMOSFET中由热载体注射诱导的降解
机译:采用0.25微米全耗尽sOI CmOs工艺制造的晶体管的热载流子可靠性