机译:通过将Ar离子注入源/漏区来抑制超薄膜全耗尽CMOS / SIMOX器件中的寄生双极作用
机译:用于完全耗尽的SOI CMOS技术的薄硅化物开发
机译:使用绝缘体上薄膜SiGe技术的高性能应变SOI CMOS器件
机译:通过薄化SI膜改善低于0.25μm的全耗尽SOI CMOS模拟性能
机译:SOI-CMOS和本体CMOS中模拟电压比较器的性能分析
机译:使用聚合物前体方法制备的SmFeO3薄膜提高阻抗式C2H2传感器的传感性能
机译:使用CMOS技术的数字自动放射线照相成像:第一款带有薄型CMOS检测器的Tri自动放射照相术,以及自动放射照相胶片与CMOS成像性能的比较