机译:PMOSFET热载流子退化期间氧化物电荷产生的建模
机译:四分之一微米PMOSFET中新的热载流子退化模式和寿命预测方法
机译:具有W栅电极的PMOSFET中的新的热载流子降解模式
机译:pMOSFET的热载流子退化模式之间的耦合
机译:具有氧氮化物栅极电介质的p + -poly PMOSFET中的热孔退化和负偏压温度不稳定性(NBTI)增强。
机译:单pMOSFET介电性能下降对NAND电路性能的影响
机译:在改进的晶片上制造的130nm部分耗尽的SOI PMOSFET中由热载体注射诱导的降解