机译:硅氧化物中具有Si纳米晶分布的MOS结构的电特性的充电效应
机译:栅绝缘体中电荷陷阱密度分布对非晶铟镓锌氧化锌薄膜晶体管的正偏应力不稳定性的影响
机译:金属纳米晶体嵌入栅极氧化物的MOS电容器结构的制备和充电特性
机译:从均匀栅极应力后的MOS结构中的Fowler-Nordheim导数特性评估氧化物电荷密度和质心
机译:电荷密度的增加和各种嵌入阴离子种类对层状双氢氧化物结构和煅烧特性的影响。
机译:非易失性存储应用中Al2O3-TiAlO-SiO2栅堆叠的电子结构和电荷俘获特性
机译:栅氧化层中si纳米晶分布mOs结构电学特性的充电效应
机译:用电离辐射和Fowler-Nordheim应力生成氮化氧化物栅介质中的界面态