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通过使用离子注入引入压缩金属栅极应力而在三栅极MOSFET中实现驱动电流增强

摘要

一种半导体器件,包括鳍和金属栅极膜。鳍形成在半导体材料的表面上。金属栅极膜形成在鳍上并且包括在该金属栅极膜中注入的离子以形成该金属栅极内的压缩应力。在一个示例性实施例中,半导体材料的表面包括(100)晶格取向,并且鳍的取向沿相对于半导体的晶格的方向。在另一个示例性实施例中,半导体材料的表面包括(100)晶格取向,并且鳍的取向沿相对于半导体的晶格的方向。鳍包括由金属栅极膜内的压缩应力生成的非平面压缩。

著录项

  • 公开/公告号CN105428232A

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2016-03-23

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 英特尔公司;

    申请/专利号CN201510756141.0

  • 申请日2010-11-18

  • 分类号H01L21/3215;H01L29/66;H01L29/78;

  • 代理机构永新专利商标代理有限公司;

  • 代理人邬少俊

  • 地址 美国加利福尼亚

  • 入库时间 2023-12-18 15:07:46

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2020-02-28

    发明专利申请公布后的驳回 IPC(主分类):H01L21/3215 申请公布日:20160323 申请日:20101118

    发明专利申请公布后的驳回

  • 2016-04-20

    实质审查的生效 IPC(主分类):H01L21/3215 申请日:20101118

    实质审查的生效

  • 2016-03-23

    公开

    公开

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