机译:90nm Cu / Low-K芯片的高级HiCTE倒装芯片封装:底部填充,新颖的端子焊盘结构和工艺优化
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机译:底部填充封装工艺导致倒装芯片封装翘曲对互连可靠性的影响
机译:研究预设底部填充片材作为未来标准倒装芯片封装工艺的可靠性和工艺能力
机译:研究用于倒装芯片的非流动和晶圆级底部填充的固化工艺。
机译:晶圆级底部填充对热循环测试过程中超薄芯片堆叠式3D-IC组件微凸点可靠性的影响
机译:使用试验元素组芯片用压阻传感器使用倒装芯片粘接工艺引起的芯片底部填埋和非导电膜对芯片残留应力的评价
机译:Xilinx倒装芯片CCGa封装失效分析物理:任务环境对Lp2底部填充和aTI盖层粘接材料性能的影响。