high harmonic generation (HHG) EUV source; EUV defect review system; actinic review;
机译:使用EUV显微镜进行光化掩模检查:制备用于相缺陷检测的Mirau干涉仪
机译:具有吸收剂图案的极紫外光刻掩模的光化相缺陷检测
机译:光电子显微镜观察光化性极紫外光刻掩模空白缺陷
机译:缺陷自由面膜缺陷胶印制备活化面膜筛选系统的应用
机译:EUV掩模技术的主要挑战:光化掩模检测和掩模3D效果。
机译:使用热湿润的Pt / Pd合金蚀刻掩膜的无光刻法制备大面积亚波长抗反射结构
机译:EUV光刻的幻影图案掩模缺陷检测