MIM capacitor; asymmetry; atomic force microscopy; atomic layer deposition; chemical vapor deposition; high-k dielectric; leakage current; transmission electron microscopy;
机译:界面处理对金属绝缘子金属(MIM)电容器上8 fF /μm〜2高k介电和组合堆叠中电压线性度的影响
机译:建模串联电阻和电感的MIM电容器以表征纳米高K介电薄膜
机译:建模串联电阻和电感的MIM电容器以表征纳米高K介电薄膜
机译:基于高k电介质的MIM电容器I-V不对称机理
机译:适用于未来规模化技术的高介电常数电介质和高迁移率半导体:氧化ha /锗CMOS器件的Ha基高K栅极电介质和界面工程
机译:具有气溶胶沉积的高K介电层的叉指电容器在电容式超感测应用中具有最高的电容值
机译:使用高k TiZrO电介质的高性能MIM电容器