首页> 外文会议>2011 IEEE Regional Symposium on Micro and Nanoelectronics: Programme Abstracts >Investigation of effects of nanowires numbers in N-channel and P-channel nanowire transistors on nanowire-CMOS characteristics
【24h】

Investigation of effects of nanowires numbers in N-channel and P-channel nanowire transistors on nanowire-CMOS characteristics

机译:研究N沟道和P沟道纳米线晶体管中的纳米线数量对纳米线CMOS特性的影响

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摘要

This paper is to study the characteristics of nanowire-CMOS and effect of increasing of numbers of nanowires in transistors on the nanowire-CMOS characteristics. This study used MuGFET simulation tool to produce the characteristics of nanowire transistors and used as input to MATLAB software to produce the characteristics of nanowire-CMOS. Increasing channel nanowires in P-channel transistor tends to improve the transfer characteristics of CMOS. Increasing channel nanowires in N-channel transistor tends to poorer transfer characteristics of CMOS.
机译:本文旨在研究纳米线-CMOS的特性以及晶体管中纳米线数量的增加对纳米线-CMOS特性的影响。这项研究使用了MuGFET仿真工具来产生纳米线晶体管的特性,并用作MATLAB软件的输入来产生纳米线CMOS的特性。 P沟道晶体管中的沟道纳米线的增加趋于改善CMOS的传输特性。 N沟道晶体管中的沟道纳米线增加会导致CMOS的传输特性变差。

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