机译:浅沟槽隔离引起的机械应力效应对纳米级nMOSFET器件性能的沟道宽度依赖性
机译:TCAD模拟研究应变工程对带有硅碳合金应力源的纳米应变Si NMOSFET的影响
机译:比较基于应力的多晶硅和TiN栅Hf基NMOSFET的特性,建模及其对电路性能的影响
机译:机械应力对NMOSFET电气性能影响的器件模拟:应力引起的内部载流子密度变化的影响
机译:机械应力对III族氮化物器件的电气特性的影响。
机译:氟化HfO2 / SiON栅堆叠的单轴应变nMOSFET的电学特性
机译:利用漂移扩散装置仿真对单轴应力下NMOSFET的电特性变化的评价方法