机译:通过系统级ESD触发瞬态闩锁
机译:在系统级ESD考虑下的CMOS IC中瞬态感应锁存的组件级测量
机译:ESD引起的闩锁期间高压CMOS LDMOS钳位和SCR的触发行为分析
机译:通过系统级ESD触发瞬态闩锁(TLU)
机译:移动设备中复杂模块的射频干扰(RFI)建模和瞬态ESD仿真的系统级建模。
机译:D-二聚体水平与中风风险的关系以及急性缺血性卒中或短暂性缺血性攻击后的不良临床结果:系统审查和荟萃分析
机译:在系统级ESD和EFT /突发测试下CMOS IC的微电子系统信号完整性对瞬态电压抑制器(TVS)对微电子系统信号完整性的影响