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2010 32nd Electrical Overstress/ Electrostatic Discharge Symposium
2010 32nd Electrical Overstress/ Electrostatic Discharge Symposium
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1.
Inside front cover
机译:
内封面
会议名称:
《2010 32nd Electrical Overstress/ Electrostatic Discharge Symposium》
|
2010年
2.
Copyright page
机译:
版权页
会议名称:
《2010 32nd Electrical Overstress/ Electrostatic Discharge Symposium》
|
2010年
3.
General chair's welcome
机译:
总经理欢迎
会议名称:
《2010 32nd Electrical Overstress/ Electrostatic Discharge Symposium》
|
2010年
4.
History of the EOS/ESD symposium
机译:
EOS / ESD座谈会的历史
会议名称:
《2010 32nd Electrical Overstress/ Electrostatic Discharge Symposium》
|
2010年
5.
Technical program committee 2010
机译:
技术计划委员会2010
会议名称:
《2010 32nd Electrical Overstress/ Electrostatic Discharge Symposium》
|
2010年
6.
2008 Best paper award
机译:
2008最佳论文奖
会议名称:
《2010 32nd Electrical Overstress/ Electrostatic Discharge Symposium》
|
2010年
7.
2008 Best student paper award
机译:
2008最佳学生论文奖
会议名称:
《2010 32nd Electrical Overstress/ Electrostatic Discharge Symposium》
|
2010年
8.
David F. Barber Sr. memorial award
机译:
大卫·巴伯(David F.
会议名称:
《2010 32nd Electrical Overstress/ Electrostatic Discharge Symposium》
|
2010年
9.
2008 Symposium outstanding paper award
机译:
2008年研讨会优秀论文奖
会议名称:
《2010 32nd Electrical Overstress/ Electrostatic Discharge Symposium》
|
2010年
10.
Industry contribution award
机译:
行业贡献奖
会议名称:
《2010 32nd Electrical Overstress/ Electrostatic Discharge Symposium》
|
2010年
11.
2008 Friendship award in recognition of RCJ 2008 best paper award/Japan
机译:
荣获RCJ颁发的2008年友谊奖2008年最佳论文奖/日本
会议名称:
《2010 32nd Electrical Overstress/ Electrostatic Discharge Symposium》
|
2010年
12.
Outstanding contributions award
机译:
杰出贡献奖
会议名称:
《2010 32nd Electrical Overstress/ Electrostatic Discharge Symposium》
|
2010年
13.
Industry pioneer recognition award
机译:
业界先锋奖
会议名称:
《2010 32nd Electrical Overstress/ Electrostatic Discharge Symposium》
|
2010年
14.
President award
机译:
总统奖
会议名称:
《2010 32nd Electrical Overstress/ Electrostatic Discharge Symposium》
|
2010年
15.
2010 Exhibitors list
机译:
2010展商名单
会议名称:
《2010 32nd Electrical Overstress/ Electrostatic Discharge Symposium》
|
2010年
16.
Joel P. Weidendorf memorial award
机译:
乔尔·魏登多夫纪念奖
会议名称:
《2010 32nd Electrical Overstress/ Electrostatic Discharge Symposium》
|
2010年
17.
Front cover
机译:
封面
会议名称:
《2010 32nd Electrical Overstress/ Electrostatic Discharge Symposium》
|
2010年
18.
Inside front cover
机译:
内封面
会议名称:
《2010 32nd Electrical Overstress/ Electrostatic Discharge Symposium》
|
2010年
19.
Copyright page
机译:
版权页
会议名称:
《2010 32nd Electrical Overstress/ Electrostatic Discharge Symposium》
|
2010年
20.
General chair's welcome
机译:
总经理欢迎
会议名称:
《2010 32nd Electrical Overstress/ Electrostatic Discharge Symposium》
|
2010年
21.
History of the EOS/ESD symposium
机译:
EOS / ESD座谈会的历史
会议名称:
《2010 32nd Electrical Overstress/ Electrostatic Discharge Symposium》
|
2010年
22.
Technical program committee 2010
机译:
技术计划委员会2010
会议名称:
《2010 32nd Electrical Overstress/ Electrostatic Discharge Symposium》
|
2010年
23.
2008 Best paper award
机译:
2008最佳论文奖
会议名称:
《2010 32nd Electrical Overstress/ Electrostatic Discharge Symposium》
|
2010年
24.
2008 Best student paper award
机译:
2008最佳学生论文奖
会议名称:
《2010 32nd Electrical Overstress/ Electrostatic Discharge Symposium》
|
2010年
25.
David F. Barber Sr. memorial award
机译:
大卫·巴伯(David F.
会议名称:
《2010 32nd Electrical Overstress/ Electrostatic Discharge Symposium》
|
2010年
26.
2008 Symposium outstanding paper award
机译:
2008年研讨会优秀论文奖
会议名称:
《2010 32nd Electrical Overstress/ Electrostatic Discharge Symposium》
|
2010年
27.
Industry contribution award
机译:
行业贡献奖
会议名称:
《2010 32nd Electrical Overstress/ Electrostatic Discharge Symposium》
|
2010年
28.
2008 Friendship award in recognition of RCJ 2008 best paper award/Japan
机译:
荣获RCJ颁发的2008年友谊奖2008年最佳论文奖/日本
会议名称:
《2010 32nd Electrical Overstress/ Electrostatic Discharge Symposium》
|
2010年
29.
Outstanding contributions award
机译:
杰出贡献奖
会议名称:
《2010 32nd Electrical Overstress/ Electrostatic Discharge Symposium》
|
2010年
30.
Industry pioneer recognition award
机译:
业界先锋奖
会议名称:
《2010 32nd Electrical Overstress/ Electrostatic Discharge Symposium》
|
2010年
31.
President award
机译:
总统奖
会议名称:
《2010 32nd Electrical Overstress/ Electrostatic Discharge Symposium》
|
2010年
32.
2010 Exhibitors list
机译:
2010展商名单
会议名称:
《2010 32nd Electrical Overstress/ Electrostatic Discharge Symposium》
|
2010年
33.
Joel P. Weidendorf memorial award
机译:
乔尔·魏登多夫纪念奖
会议名称:
《2010 32nd Electrical Overstress/ Electrostatic Discharge Symposium》
|
2010年
34.
Front cover
机译:
封面
会议名称:
《2010 32nd Electrical Overstress/ Electrostatic Discharge Symposium》
|
2010年
35.
CDM simulation study of a system-in-package
机译:
封装系统的CDM模拟研究
作者:
Shukla Vrashank
;
Rosenbaum Elyse
会议名称:
《2010 32nd Electrical Overstress/ Electrostatic Discharge Symposium》
|
2010年
36.
On-chip system level protection of FM antenna pin
机译:
FM天线引脚的片上系统级保护
作者:
Notermans Guido
;
Maksimovic Dejan
;
Vermont Gerd
;
van Maasakkers Michiel
;
Pusa Fredrik
;
Smedes Theo
会议名称:
《2010 32nd Electrical Overstress/ Electrostatic Discharge Symposium》
|
2010年
37.
TLP characterization for testing system level ESD performance
机译:
TLP表征可测试系统级ESD性能
作者:
Jahanzeb Agha
;
Lou Lifang
;
Duvvury Charvaka
;
Torres Cynthia
;
Morrison Scott
会议名称:
《2010 32nd Electrical Overstress/ Electrostatic Discharge Symposium》
|
2010年
38.
An automated ESD verification tool for analog design
机译:
用于模拟设计的自动ESD验证工具
作者:
Kunz Hans
;
Boselli Gianluca
;
Brodsky Jonathan
;
Hambardzumyan Minas
;
Eatmon Ryan
会议名称:
《2010 32nd Electrical Overstress/ Electrostatic Discharge Symposium》
|
2010年
39.
Impact of the power supply on the ESD system level robustness
机译:
电源对ESD系统级稳健性的影响
作者:
Giraldo Sandra
;
Salamero Christophe
;
Caignet Fabrice
会议名称:
《2010 32nd Electrical Overstress/ Electrostatic Discharge Symposium》
|
2010年
40.
Predictive full circuit ESD simulation and analysis using extended ESD compact models: Methodology and tool implementation
机译:
使用扩展的ESD紧凑模型进行预测性全电路ESD仿真和分析:方法和工具实施
作者:
Li Junjun
;
Gauthier Robert
;
Joshi Amol
;
Lundberg Martin
;
Connor John
;
Chang Shunhua
;
Mitra Souvick
;
Muhammad Mujahid
会议名称:
《2010 32nd Electrical Overstress/ Electrostatic Discharge Symposium》
|
2010年
41.
Cross domain protection analysis and verification using whole chip ESD simulation
机译:
使用全芯片ESD仿真进行跨域保护分析和验证
作者:
Okushima Mototsugu
;
Kitayama Tomohiro
;
Kobayashi Susumu
;
Kato Tetsuya
;
Hirata Morihisa
会议名称:
《2010 32nd Electrical Overstress/ Electrostatic Discharge Symposium》
|
2010年
42.
Pulsed gate dielectric breakdown in a 32 nm technology under different ESD stress configurations
机译:
在不同的ESD应力配置下采用32 nm技术的脉冲栅极介电击穿
作者:
Yang Yang
;
Gauthier Robert
;
Di Sarro James
;
Li Junjun
;
Mitra Souvick
;
Chatty Kiran
;
Mishra Rahul
;
Ioannou Dimitris E.
会议名称:
《2010 32nd Electrical Overstress/ Electrostatic Discharge Symposium》
|
2010年
43.
Investigation on output driver with stacked devices for ESD design window engineering
机译:
ESD设计窗口工程中带有堆叠器件的输出驱动器的研究
作者:
Cao Shuqing
;
Chun Jung-Hoon
;
Choi Eunji
;
Beebe Stephen
;
Anderson Warren
;
Dutton Robert
会议名称:
《2010 32nd Electrical Overstress/ Electrostatic Discharge Symposium》
|
2010年
44.
Measurements to establish process ESD compatibility
机译:
进行测量以建立过程ESD兼容性
作者:
Steinman Arnold
;
Henry Leo G.
;
Hernandez Marcos
会议名称:
《2010 32nd Electrical Overstress/ Electrostatic Discharge Symposium》
|
2010年
45.
CDM damage due to Automated Handling Equipment
机译:
自动化处理设备会损坏CDM
作者:
Millar Sean
;
Smallwood Jeremy
会议名称:
《2010 32nd Electrical Overstress/ Electrostatic Discharge Symposium》
|
2010年
46.
Actual static control market situation and how to choose suitable ESD flooring systems for ESD control working areas
机译:
静电控制市场的实际状况以及如何为ESD控制工作区域选择合适的ESD地板系统
作者:
(Toshi) Numaguchi Toshikazu
会议名称:
《2010 32nd Electrical Overstress/ Electrostatic Discharge Symposium》
|
2010年
47.
Study of power arrays in ESD operation regimes
机译:
ESD工作环境中的电源阵列研究
作者:
Aliaj Blerina
;
Vashchenko Vladislav
;
Lindorfer Philipp
;
Tcherniaev Andrew
;
Ershov Maxim
;
Liou Juin. J.
;
Hopper Peter
会议名称:
《2010 32nd Electrical Overstress/ Electrostatic Discharge Symposium》
|
2010年
48.
Problematic natural gas power plant pumping/irrigation: Station lightning protection success story
机译:
有问题的天然气发电厂的抽水/灌溉:电站防雷成功案例
作者:
Miller Douglas
;
Hudson Steven
;
Teague Eddie
会议名称:
《2010 32nd Electrical Overstress/ Electrostatic Discharge Symposium》
|
2010年
49.
Improving the ESD self-protection capability of integrated power NLDMOS arrays
机译:
提高集成电源NLDMOS阵列的ESD自保护能力
作者:
Vashchenko V. A.
;
Strachan A.
;
Linten D.
;
Lafonteese D.
;
Concannon A.
;
Scholz M.
;
Thijs S.
;
Jansen P.
;
Hopper P.
;
Groeseneken G.
会议名称:
《2010 32nd Electrical Overstress/ Electrostatic Discharge Symposium》
|
2010年
50.
Solutions to mitigate parasitic NPN bipolar action in high voltage analog technologies
机译:
缓解高压模拟技术中寄生NPN双极作用的解决方案
作者:
Salman Akram A
;
Boselli Gianluca
;
Kunz Hans
;
Brodsky Jonathan
会议名称:
《2010 32nd Electrical Overstress/ Electrostatic Discharge Symposium》
|
2010年
51.
Pitfalls for CDM calibration procedures
机译:
CDM校准程序的陷阱
作者:
Smedes T.
;
Polewski M.
;
van IJzerloo A.
;
Lefebvre J. L.
;
Dekker M.
会议名称:
《2010 32nd Electrical Overstress/ Electrostatic Discharge Symposium》
|
2010年
52.
CDM effect on a 65nm SOC LNA
机译:
CDM对65nm SOC LNA的影响
作者:
Worley Eugene R.
;
Jalilizeinali Reza
;
Dundigal Sreeker
;
Siansuri Evan
;
Chang Tony
;
Mohan Vivek
;
Zhang Xiaonan
会议名称:
《2010 32nd Electrical Overstress/ Electrostatic Discharge Symposium》
|
2010年
53.
A new method to evaluate effectiveness of CDM ESD protection
机译:
一种评估CDM ESD保护有效性的新方法
作者:
(Paul) Zhou Yuanzhong
;
Hajjar Jean-Jacques
;
Ellis David F.
;
Olney Andrew H.
;
Liou Juin J.
会议名称:
《2010 32nd Electrical Overstress/ Electrostatic Discharge Symposium》
|
2010年
54.
Overcoming the unselected pin relay capacitance HBM tester artifact with two pin HBM testing
机译:
通过两针HBM测试克服未选择的针式继电器电容HBM测试仪工件
作者:
Ward Scott
;
Burgess Keith
;
Grund Evan
;
Schichl Joe
;
Duvvury Charvaka
;
Koeppen Peter
;
Kunz Hans
会议名称:
《2010 32nd Electrical Overstress/ Electrostatic Discharge Symposium》
|
2010年
55.
HBM parameter extraction and Transient Safe Operating Area
机译:
HBM参数提取和暂态安全工作区
作者:
Linten D.
;
Thijs S.
;
Griffoni A.
;
Scholz M.
;
Chen S.-H.
;
Lafonteese D.
;
Vashchenko V.
;
Sawada M.
;
Concannon A.
;
Hopper P.
;
Jansen P.
;
Groeseneken G
会议名称:
《2010 32nd Electrical Overstress/ Electrostatic Discharge Symposium》
|
2010年
56.
Analysis of dynamic effects of charge injection due to ESD in MEMS
机译:
MEMS中ESD引起的电荷注入的动态效应分析
作者:
Greason William D.
会议名称:
《2010 32nd Electrical Overstress/ Electrostatic Discharge Symposium》
|
2010年
57.
Behavior of RF MEMS switches under ESD stress
机译:
ESD应力下RF MEMS开关的行为
作者:
Sangameswaran Sandeep
;
De Coster Jeroen
;
Cherman Vladimir
;
Czarnecki Piotr
;
Linten Dimitri
;
Scholz Mirko
;
Thijs Steven
;
Groeseneken Guido
;
De Wolf Ingrid
会议名称:
《2010 32nd Electrical Overstress/ Electrostatic Discharge Symposium》
|
2010年
58.
A study on the application of on-chip EOS/ESD full-protection device for TMR heads
机译:
片上EOS / ESD全保护器件在TMR磁头中的应用研究
作者:
Tag-at Ray Nicanor M.
;
Li Lloyd Henry
会议名称:
《2010 32nd Electrical Overstress/ Electrostatic Discharge Symposium》
|
2010年
59.
Table of contents
机译:
目录
会议名称:
《2010 32nd Electrical Overstress/ Electrostatic Discharge Symposium》
|
2010年
60.
CDM simulation study of a system-in-package
机译:
封装系统的CDM模拟研究
作者:
Shukla Vrashank
;
Rosenbaum Elyse
会议名称:
《2010 32nd Electrical Overstress/ Electrostatic Discharge Symposium》
|
2010年
61.
On-chip system level protection of FM antenna pin
机译:
FM天线引脚的片上系统级保护
作者:
Notermans Guido
;
Maksimovic Dejan
;
Vermont Gerd
;
van Maasakkers Michiel
;
Pusa Fredrik
;
Smedes Theo
会议名称:
《2010 32nd Electrical Overstress/ Electrostatic Discharge Symposium》
|
2010年
62.
TLP characterization for testing system level ESD performance
机译:
TLP表征可测试系统级ESD性能
作者:
Jahanzeb Agha
;
Lou Lifang
;
Duvvury Charvaka
;
Torres Cynthia
;
Morrison Scott
会议名称:
《2010 32nd Electrical Overstress/ Electrostatic Discharge Symposium》
|
2010年
63.
An automated ESD verification tool for analog design
机译:
用于模拟设计的自动ESD验证工具
作者:
Kunz Hans
;
Boselli Gianluca
;
Brodsky Jonathan
;
Hambardzumyan Minas
;
Eatmon Ryan
会议名称:
《2010 32nd Electrical Overstress/ Electrostatic Discharge Symposium》
|
2010年
64.
Impact of the power supply on the ESD system level robustness
机译:
电源对ESD系统级稳健性的影响
作者:
Giraldo Sandra
;
Salamero Christophe
;
Caignet Fabrice
会议名称:
《2010 32nd Electrical Overstress/ Electrostatic Discharge Symposium》
|
2010年
65.
Predictive full circuit ESD simulation and analysis using extended ESD compact models: Methodology and tool implementation
机译:
使用扩展的ESD紧凑模型进行预测性全电路ESD仿真和分析:方法和工具实施
作者:
Li Junjun
;
Gauthier Robert
;
Joshi Amol
;
Lundberg Martin
;
Connor John
;
Chang Shunhua
;
Mitra Souvick
;
Muhammad Mujahid
会议名称:
《2010 32nd Electrical Overstress/ Electrostatic Discharge Symposium》
|
2010年
66.
Cross domain protection analysis and verification using whole chip ESD simulation
机译:
使用全芯片ESD仿真进行跨域保护分析和验证
作者:
Okushima Mototsugu
;
Kitayama Tomohiro
;
Kobayashi Susumu
;
Kato Tetsuya
;
Hirata Morihisa
会议名称:
《2010 32nd Electrical Overstress/ Electrostatic Discharge Symposium》
|
2010年
67.
Pulsed gate dielectric breakdown in a 32 nm technology under different ESD stress configurations
机译:
在不同的ESD应力配置下采用32 nm技术的脉冲栅极介电击穿
作者:
Yang Yang
;
Gauthier Robert
;
Di Sarro James
;
Li Junjun
;
Mitra Souvick
;
Chatty Kiran
;
Mishra Rahul
;
Ioannou Dimitris E.
会议名称:
《2010 32nd Electrical Overstress/ Electrostatic Discharge Symposium》
|
2010年
68.
Investigation on output driver with stacked devices for ESD design window engineering
机译:
ESD设计窗口工程中带有堆叠器件的输出驱动器的研究
作者:
Cao Shuqing
;
Chun Jung-Hoon
;
Choi Eunji
;
Beebe Stephen
;
Anderson Warren
;
Dutton Robert
会议名称:
《2010 32nd Electrical Overstress/ Electrostatic Discharge Symposium》
|
2010年
69.
Measurements to establish process ESD compatibility
机译:
进行测量以建立过程ESD兼容性
作者:
Steinman Arnold
;
Henry Leo G.
;
Hernandez Marcos
会议名称:
《2010 32nd Electrical Overstress/ Electrostatic Discharge Symposium》
|
2010年
70.
CDM damage due to Automated Handling Equipment
机译:
自动化处理设备会损坏CDM
作者:
Millar Sean
;
Smallwood Jeremy
会议名称:
《2010 32nd Electrical Overstress/ Electrostatic Discharge Symposium》
|
2010年
71.
Actual static control market situation and how to choose suitable ESD flooring systems for ESD control working areas
机译:
静电控制市场的实际状况以及如何为ESD控制工作区域选择合适的ESD地板系统
作者:
(Toshi) Numaguchi Toshikazu
会议名称:
《2010 32nd Electrical Overstress/ Electrostatic Discharge Symposium》
|
2010年
72.
Study of power arrays in ESD operation regimes
机译:
ESD工作环境中的电源阵列研究
作者:
Aliaj Blerina
;
Vashchenko Vladislav
;
Lindorfer Philipp
;
Tcherniaev Andrew
;
Ershov Maxim
;
Liou Juin. J.
;
Hopper Peter
会议名称:
《2010 32nd Electrical Overstress/ Electrostatic Discharge Symposium》
|
2010年
73.
Problematic natural gas power plant pumping/irrigation: Station lightning protection success story
机译:
有问题的天然气发电厂的抽水/灌溉:电站防雷成功案例
作者:
Miller Douglas
;
Hudson Steven
;
Teague Eddie
会议名称:
《2010 32nd Electrical Overstress/ Electrostatic Discharge Symposium》
|
2010年
74.
Improving the ESD self-protection capability of integrated power NLDMOS arrays
机译:
提高集成电源NLDMOS阵列的ESD自保护能力
作者:
Vashchenko V. A.
;
Strachan A.
;
Linten D.
;
Lafonteese D.
;
Concannon A.
;
Scholz M.
;
Thijs S.
;
Jansen P.
;
Hopper P.
;
Groeseneken G.
会议名称:
《2010 32nd Electrical Overstress/ Electrostatic Discharge Symposium》
|
2010年
75.
Solutions to mitigate parasitic NPN bipolar action in high voltage analog technologies
机译:
缓解高压模拟技术中寄生NPN双极作用的解决方案
作者:
Salman Akram A
;
Boselli Gianluca
;
Kunz Hans
;
Brodsky Jonathan
会议名称:
《2010 32nd Electrical Overstress/ Electrostatic Discharge Symposium》
|
2010年
76.
Pitfalls for CDM calibration procedures
机译:
CDM校准程序的陷阱
作者:
Smedes T.
;
Polewski M.
;
van IJzerloo A.
;
Lefebvre J. L.
;
Dekker M.
会议名称:
《2010 32nd Electrical Overstress/ Electrostatic Discharge Symposium》
|
2010年
77.
CDM effect on a 65nm SOC LNA
机译:
CDM对65nm SOC LNA的影响
作者:
Worley Eugene R.
;
Jalilizeinali Reza
;
Dundigal Sreeker
;
Siansuri Evan
;
Chang Tony
;
Mohan Vivek
;
Zhang Xiaonan
会议名称:
《2010 32nd Electrical Overstress/ Electrostatic Discharge Symposium》
|
2010年
78.
A new method to evaluate effectiveness of CDM ESD protection
机译:
一种评估CDM ESD保护有效性的新方法
作者:
(Paul) Zhou Yuanzhong
;
Hajjar Jean-Jacques
;
Ellis David F.
;
Olney Andrew H.
;
Liou Juin J.
会议名称:
《2010 32nd Electrical Overstress/ Electrostatic Discharge Symposium》
|
2010年
79.
Overcoming the unselected pin relay capacitance HBM tester artifact with two pin HBM testing
机译:
通过两针HBM测试克服未选择的针式继电器电容HBM测试仪工件
作者:
Ward Scott
;
Burgess Keith
;
Grund Evan
;
Schichl Joe
;
Duvvury Charvaka
;
Koeppen Peter
;
Kunz Hans
会议名称:
《2010 32nd Electrical Overstress/ Electrostatic Discharge Symposium》
|
2010年
80.
HBM parameter extraction and Transient Safe Operating Area
机译:
HBM参数提取和暂态安全工作区
作者:
Linten D.
;
Thijs S.
;
Griffoni A.
;
Scholz M.
;
Chen S.-H.
;
Lafonteese D.
;
Vashchenko V.
;
Sawada M.
;
Concannon A.
;
Hopper P.
;
Jansen P.
;
Groeseneken G
会议名称:
《2010 32nd Electrical Overstress/ Electrostatic Discharge Symposium》
|
2010年
81.
Analysis of dynamic effects of charge injection due to ESD in MEMS
机译:
MEMS中ESD引起的电荷注入的动态效应分析
作者:
Greason William D.
会议名称:
《2010 32nd Electrical Overstress/ Electrostatic Discharge Symposium》
|
2010年
82.
Behavior of RF MEMS switches under ESD stress
机译:
ESD应力下RF MEMS开关的行为
作者:
Sangameswaran Sandeep
;
De Coster Jeroen
;
Cherman Vladimir
;
Czarnecki Piotr
;
Linten Dimitri
;
Scholz Mirko
;
Thijs Steven
;
Groeseneken Guido
;
De Wolf Ingrid
会议名称:
《2010 32nd Electrical Overstress/ Electrostatic Discharge Symposium》
|
2010年
83.
A study on the application of on-chip EOS/ESD full-protection device for TMR heads
机译:
片上EOS / ESD全保护器件在TMR磁头中的应用研究
作者:
Tag-at Ray Nicanor M.
;
Li Lloyd Henry
会议名称:
《2010 32nd Electrical Overstress/ Electrostatic Discharge Symposium》
|
2010年
84.
Table of contents
机译:
目录
会议名称:
《2010 32nd Electrical Overstress/ Electrostatic Discharge Symposium》
|
2010年
85.
A novel physical model for the SCR ESD protection device
机译:
SCR ESD保护设备的新型物理模型
作者:
Romanescu Alexandru
;
Fonteneau Pascal
;
Legrand Charles-Alexandre
;
Ferrari Philippe
;
Arnould Jean-Daniel
;
Manouvrier Jean-Robert
;
Beckrich-Ros Helene
会议名称:
《2010 32nd Electrical Overstress/ Electrostatic Discharge Symposium》
|
2010年
86.
SPICE simulation methodology for system level ESD design
机译:
用于系统级ESD设计的SPICE仿真方法
作者:
Lou Lifang
;
Duvvury Charvaka
;
Jahanzeb Agha
;
Park Jae
会议名称:
《2010 32nd Electrical Overstress/ Electrostatic Discharge Symposium》
|
2010年
87.
The relevance of long-duration TLP stress on system level ESD design
机译:
长期TLP应力与系统级ESD设计的相关性
作者:
Boselli Gianluca
;
Salman Akram
;
Brodsky Jonathan
;
Kunz Hans
会议名称:
《2010 32nd Electrical Overstress/ Electrostatic Discharge Symposium》
|
2010年
88.
Triggering of transient latch-up (TLU) by system level ESD
机译:
通过系统级ESD触发瞬态闩锁(TLU)
作者:
Brodbeck Tilo
;
Stadler Wolfgang
;
Baumann Christian
;
Esmark Kai
;
Domanski Krzysztof
会议名称:
《2010 32nd Electrical Overstress/ Electrostatic Discharge Symposium》
|
2010年
89.
Building-up of system level ESD modeling: Impact of a decoupling capacitance on ESD propagation
机译:
建立系统级ESD建模:去耦电容对ESD传播的影响
作者:
Monnereau Nicolas
;
Caignet Fabrice
;
Tremouilles David
会议名称:
《2010 32nd Electrical Overstress/ Electrostatic Discharge Symposium》
|
2010年
90.
SCCF — System to component level correlation factor
机译:
SCCF —系统与组件级别的相关因子
作者:
Thijs S.
;
Scholz M.
;
Linten D.
;
Griffoni A.
;
Russ C.
;
Stadler W.
;
Lafonteese D.
;
Vashchenko V.
;
Sawada M.
;
Concannon A.
;
Hopper P.
;
Jansen P.
;
Groeseneken G
会议名称:
《2010 32nd Electrical Overstress/ Electrostatic Discharge Symposium》
|
2010年
91.
On-chip ESD protection with improved high holding current SCR (HHISCR) achieving IEC 8kV contact system level
机译:
具有改进的高保持电流SCR(HHISCR)的片上ESD保护达到IEC 8kV接触系统级别
作者:
Bart Sorgeloos
;
Ilse Backers
;
Olivier Marichal
;
Bart Keppens
会议名称:
《2010 32nd Electrical Overstress/ Electrostatic Discharge Symposium》
|
2010年
92.
A new ESD design methodology for high voltage DMOS applications
机译:
用于高压DMOS应用的新ESD设计方法
作者:
Malobabic Slavica
;
Salcedo Javier A.
;
Righter Alan W.
;
Hajjar Jean-Jacques
;
Liou Juin J.
会议名称:
《2010 32nd Electrical Overstress/ Electrostatic Discharge Symposium》
|
2010年
93.
A TLP-based characterization method for transient gate biasing of MOS devices in high-voltage technologies
机译:
基于TLP的高压技术中MOS器件瞬态栅极偏置的表征方法
作者:
Willemen Joost
;
Johnsson David
;
Cao Yiqun
;
Stecher Matthias
会议名称:
《2010 32nd Electrical Overstress/ Electrostatic Discharge Symposium》
|
2010年
94.
On the dynamic destruction of LDMOS transistors beyond voltage overshoots in high voltage ESD
机译:
关于LDMOS晶体管的动态破坏超过高压ESD中的电压过冲
作者:
Cao Yiqun
;
Glaser Ulrich
;
Willemen Joost
;
Frei Stephan
;
Stecher Matthias
会议名称:
《2010 32nd Electrical Overstress/ Electrostatic Discharge Symposium》
|
2010年
95.
ESD stimulated ignition of metal powders
机译:
ESD刺激的金属粉末着火
作者:
Beloni Ervin
;
Dreizin Edward L.
会议名称:
《2010 32nd Electrical Overstress/ Electrostatic Discharge Symposium》
|
2010年
96.
CDM2 — A new CDM test method for improved test repeatability and reproducibility
机译:
CDM2 —一种新的CDM测试方法,可提高测试的可重复性和可重复性
作者:
Given Robert
;
Hernandez Marcos
;
Meuse Tom
会议名称:
《2010 32nd Electrical Overstress/ Electrostatic Discharge Symposium》
|
2010年
97.
Investigation of current flow during wafer-level CDM using real-time probing
机译:
使用实时探测研究晶圆级CDM期间的电流
作者:
Jack Nathan
;
Shukla Vrashank
;
Rosenbaum Elyse
会议名称:
《2010 32nd Electrical Overstress/ Electrostatic Discharge Symposium》
|
2010年
98.
HBM tester waveforms, equivalent circuits, and socket capacitance
机译:
HBM测试仪波形,等效电路和插座电容
作者:
Maloney Timothy J.
会议名称:
《2010 32nd Electrical Overstress/ Electrostatic Discharge Symposium》
|
2010年
99.
A comprehensive study of MEMS behavior under EOS/ESD events: Breakdown characterization, dielectric charging, and realistic cures
机译:
全面研究EOS / ESD事件下的MEMS行为:击穿特性,电介质充电和实际固化
作者:
Tazzoli Augusto
;
Barbato Marco
;
Ritrovato Vincenzo
;
Meneghesso Gaudenzio
会议名称:
《2010 32nd Electrical Overstress/ Electrostatic Discharge Symposium》
|
2010年
100.
The effect of ESD on the performance of magnetic storage drives
机译:
ESD对磁存储驱动器性能的影响
作者:
Iben Icko Eric Timothy
;
Lee Gilda
;
Czarnecki Stanley
;
Golcher Peter
;
Lam Michelle
会议名称:
《2010 32nd Electrical Overstress/ Electrostatic Discharge Symposium》
|
2010年
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