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The Impact of Holding Voltage of Transient Voltage Suppressor (TVS) on Signal Integrity of Microelectronics System With CMOS ICs Under System-Level ESD and EFT/Burst Tests

机译:在系统级ESD和EFT /突发测试下CMOS IC的微电子系统信号完整性对瞬态电压抑制器(TVS)对微电子系统信号完整性的影响

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著录项

  • 作者

    Yu-Shu Shen; Ming-Dou Ker;

  • 作者单位
  • 年度 2021
  • 总页数
  • 原文格式 PDF
  • 正文语种
  • 中图分类

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