body-biasing; device variability suppression; leakage current reduction; post-silicon programming;
机译:热载流子对45和65 nm CMOS技术中nMOSFET可变性的影响
机译:低于45 nm CMOS技术在性能,可变性和可靠性方面的挑战和机遇
机译:适用于45?nm及以下节点的先进CMOS器件技术
机译:后硅编程的身体偏置平台抑制装置可变性45nm CMOS技术
机译:45 nm CMOS技术中全集成低噪声放大器(LNA)的设计,故障建模和测试,用于芯片间无线互连
机译:用于亚微米像素的45 nm堆叠式CMOS图像传感器处理技术
机译:亚45nm CmOs器件中低频波动的可变性 - 实验,建模和应用