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【24h】

GaAs and InP nano-hole arrays fabricated by reactive beam etching using highly ordered alumina membranes

机译:通过使用高度有序的氧化铝膜进行反应束刻蚀制造的GaAs和InP纳米孔阵列

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摘要

Highly ordered nano-channel arrays consisting of an anodic porous alumina was used as a mask for a reactive beam etching (RBE) to transform the nano-channel pattern into III-V semiconductors. The alumina mask shows high tolerance to RBE using Br/sub 2//N/sub 2/ mixed gas system. GaAs and InP nano-hole arrays with high aspect ratio were obtained.
机译:由阳极多孔氧化铝组成的高度有序的纳米通道阵列被用作反应束蚀刻(RBE)的掩模,以将纳米通道图形转换为III-V半导体。使用Br / sub 2 // N / sub 2 /混合气体系统,氧化铝掩模对RBE的耐受性很高。获得了具有高纵横比的GaAs和InP纳米孔阵列。

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