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【24h】

Novel electromigration failure mechanism for aluminlum-based metallization on titanium substrate

机译:钛衬底基于铝金属化的新型电迁移失效机制

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摘要

In this paper a phenomenological characterisation of an anomalous grain growth, observed after classical electrmigration lifetests, on Al-1
机译:本文在Al-1上,在古典电迁移寿命之后观察到异常晶粒生长的现象学表征

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