Temperature measurement; Insulated gate bipolar transistors; MOSFET; Temperature distribution; Semiconductor device measurement; Silicon carbide; Current measurement;
机译:使用底部保护p阱的沟槽轮廓和自对准离子注入对1.2 kV 4H-SiC沟槽MOSFET的电特性的影响
机译:雪崩坚固性评估为1.2kV45MΩ不对称沟槽SIC MOSFET
机译:1.2 kV SiC沟通MOSFET的双P底结构,抑制在氧化物处的电场挤压
机译:1.2 kV SIC SBD集成沟渠和平面MOSFET中电气特性综合研究
机译:1.2 kV 4H-SiC平面栅极功率MOSFET的设计,分析和优化,用于改进的高频切换
机译:4H-SIC双沟MOSFET采用分流异质结闸用于改善开关特性
机译:商用1.2kV siC mOsFET模块和1.2kV si IGBT模块的对比评估
机译:具有高迁移率的常闭4H-siC沟槽栅极mOsFET(预印刷)