Thin film transistors; Stability analysis; Thermal stability; NIST; Logic gates; Annealing; Stress;
机译:钼源极/漏极接触电阻对非晶氧化锌锌(a-ZTO)薄膜晶体管的影响
机译:通过损坏的反向沟道的固化和钝化实现高性能低成本反向沟道刻蚀非晶态镓铟锌氧化物薄膜晶体管
机译:通过损坏的反向沟道的固化和钝化实现高性能低成本反向沟道刻蚀非晶态镓铟锌氧化物薄膜晶体管
机译:栅极绝缘体对反向沟道刻蚀非晶氧化锌锡(a-ZTO)薄膜晶体管的电性能的影响
机译:用于有源矩阵有机发光显示器的非晶铟镓锌氧化物薄膜晶体管。
机译:CF4等离子体处理HfO2栅电介质的非晶铟镓锌氧化物薄膜晶体管的电性能和可靠性提高
机译:p-11:双栅共面同质非晶铟镓 - 氧化锌薄膜晶体管的电学特性和稳定性