GaAs image sensor; Through Silicon Via (TSV); Through wafer grooves (TWG); Wafer level packaging (WLP);
机译:通过深湿法刻蚀在GaAs上形成贯穿衬底的沟槽及其在GaAs CCD晶圆级封装中的应用
机译:新颖的晶圆穿通槽组合制造方法及其在GaAs CCD晶圆级封装中的应用
机译:使用双频高密度等离子体进行深干蚀刻,在晶圆级制造用于光纤包装的高硅V型槽
机译:用于GaAs光学检测器的晶片级包装使用通过机械切割和湿法蚀刻制造的晶片槽(TWG)
机译:设计,结构和材料对大型阵列晶圆级封装的热机械可靠性的影响。
机译:异丙醇浓度和刻蚀时间对低电阻晶体硅晶片湿化学各向异性刻蚀的影响
机译:硅片压电陶瓷湿蚀刻和均匀晶片级变薄