机译:用于集成电路故障分析的新的亚微探测技术
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机译:与p型SOI层上的高压集成电路兼容的高压LDMOS
机译:SOI上高级集成电路故障分析中的激光电压探测
机译:利用Volterra分析设计低压低失真CMOS RF集成电路。
机译:局部晚期胃癌中基于探针的共聚焦激光内窥镜检查(pCLE):实时分析脉管系统的有力技术
机译:III-V / SILICON第一订单分布式反馈激光器集成在SOI波导电路上
机译:使用扫描探针显微镜的集成电路的非侵入式电流和电压成像技术。最终报告,LDRD项目FY93和FY94