机译:一种片上传感器,用于测量和补偿模拟电路中由NBTI引起的静态退化
机译:在静态和脉冲NBT应力条件下,p沟道功率VDMOSFET中与NBTI相关的退化和寿命估算
机译:DFT和最小泄漏模式生成,可在测试和预烧期间降低静态功耗
机译:控制静态烧坏测试期间的NBTI降级
机译:结合轴向扭转试验,可控微织物对高岭土的三维静态和动态行为。
机译:多人静态姿势控制的重测可靠性硬化
机译:使用内部节点控制最小化NBTI性能下降
机译:无翼鳍控制导弹模型的风洞试验,通过0.5到0.88的马赫数范围获得静态稳定性和控制特性