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Extraction of the retention properties of a phase-change cell from temperature-ramp tests using a novel method

机译:使用新方法从温度斜坡测试中提取相变电池的保留特性

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摘要

In this work we propose a novel method for fast and reliable evaluation of the retention properties of phase-change memory cells, based on the modeling of the temperature-ramp characteristics. Using this method we investigate the influence of the length and thickness of the amorphous mark on the retention lifetime. The results show that the degradation of the retention properties with the cell scaling is limited.
机译:在这项工作中,我们提出了一种新的方法,基于温度斜坡特性的建模,可以快速而可靠地评估相变存储单元的保留特性。使用这种方法,我们研究了无定形标记的长度和厚度对保留寿命的影响。结果表明,随着细胞比例的提高,保留性能的下降受到限制。

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