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Temperature-dependent Operation of Ge on Si p-I-n Photodetectors

机译:Si p-I-n光电探测器上Ge的温度依赖性操作

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摘要

We investigate the temperature dependence of p-I-n photodetectorsrealized in germanium on silicon. The dark current increases by afactor 1.6÷1.9 every 10°C and is typically dominated by generationin the space charge region, with diffusion contributing in the bestsamples. The NIR responsivity decreases with temperature indevices with a large defect-density, but is more stable in highquality photodiodes. These findings provide a relevant insight onthe design Ge-on-Si NIR detectors to be operated above roomtemperature.
机译:我们研究p-I-n光电探测器的温度依赖性 在硅上的锗中实现。暗电流增加一个 每10°C系数1.6÷1.9,通常由发电量决定 在空间电荷区域,扩散贡献最大 样品。 NIR响应度随温度的升高而降低 缺陷密度大但在高光下更稳定的器件 高质量的光电二极管。这些发现提供了对以下方面的相关见解 可在房间上方操作的Ge-on-Si近红外探测器 温度。

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