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【24h】

Post-Annealing Effects on Emission Characteristics of InAs Quantum Dots on GaNAs Buffer Layer

机译:退火后对GaNAs缓冲层上InAs量子点发射特性的影响

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摘要

Thermal annealing effects on PL characteristics of MOCVD grown InAs QD on GaNAs buffer layers were investigated. By using GaNAs buffer, the suppression of PL intensity degradation due to the crystalline improvement of GaNAs was observed.
机译:研究了热退火对GaNAs缓冲层上MOCVD生长的InAs QD的PL特性的影响。通过使用GaNAs缓冲液,抑制了由于GaNAs的结晶改善而导致的PL强度降低的抑制。

著录项

  • 来源
    《》|2007年|307-310|共4页
  • 会议地点
  • 作者

    Suzuki; R.; Miyamoto; T.; Koyama; F.;

  • 作者单位
  • 会议组织
  • 原文格式 PDF
  • 正文语种
  • 中图分类
  • 关键词

  • 入库时间 2022-08-26 15:08:16

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