silicon; elemental semiconductors; oxidation; Auger electron spectra; reflection high energy electron diffraction; silicon compounds; self-limiting oxidation; very thin oxides growth; Si001 surface; real-time Auger electron spectroscopy; RHEED; 636;
机译:反射高能电子衍射-俄歇电子能谱研究Si(001)表面上非常薄的氧化物的生长和分解动力学的限速反应
机译:利用反射高能电子衍射和俄歇电子能谱研究了Cu-9%Al(111)表面超薄氧化物层的形成和Pd的生长
机译:俄歇电子能谱结合反射高能电子衍射实时监测Si(001)表面上非常薄的氧化物层的生长动力学
机译:通过实时螺旋电子光谱研究的Si(001)表面上非常薄氧化物生长的自限氧化
机译:使用飞行时间正电子an灭感应俄歇电子能谱研究氧化物表面。
机译:通过俄歇电子能谱和X射线光电子能谱定量测定表面成分的有效衰减长度
机译:用俄歇电子能谱研究一氧化氮在硅(100)2×1表面上的吸附
机译:俄歇电子能谱和电子能量损失谱研究了氢化钛阳极表面氧化膜的氧扩散