机译:GaN中少数载流子扩散长度和寿命的值及其对双极型器件的影响
机译:II型超晶格屏障装置中的少数载流子寿命和扩散长度
机译:使用多波长激光SQUID显微镜测量半导体的少数载流子扩散长度
机译:通过飞行激光扫描仪作为剩余误操作的函数测量SOI器件中的少数载波扩散长度和寿命
机译:使用反向恢复瞬态方法测量纳米晶硅器件中少数载流子的寿命。
机译:用于非接触氧化过程表征和炉分析的少数载流子寿命测量
机译:关于少数载流子扩散长度/寿命测量的第一次工作组会议:循环寿命/扩散长度测试的结果
机译:关于少数载流子扩散长度/寿命测量的第一次工作组会议:循环寿命/扩散长度测试的结果