Taiwan Semiconductor Manufacturing Company, Ltd., Hsin-Chu, Taiwan;
机译:使用新型材料和新型原位工具实现快速可靠的TEM样品提起和转移
机译:FIB平面图升空样品制备用于通过CO1.7FE1.3O4薄膜在CO1.7FE1.3O4薄膜中获得的周期纳米结构的TEM表征
机译:用于TEM样品制备的FIB原位提离技术的变化
机译:Micromanipulator和纳米电机的原位提升TEM样品制备的多功能应用
机译:用于TEM分析的碳纳米管复合样品制备的切片机切割工艺的改进。
机译:化学抛光在锆合金TEM样品制备中的应用
机译:使用原位提升TEM样本的特定于特定位点特异性区域的定量能量分散技术