NXP Semiconductors Taiwan Ltd. Dept. of Wafer Testing Kaohsiung Taiwan;
National Sun Yat-Sen University Dept. of Computer Science and Engineering Kaohsiung Taiwan;
NXP Semiconductors Tai;
wafer test; wafer defect map; wafer defect pattern; test probe; test probing track; test probing order; wafer test syndrome; yield learning;
机译:TestDNA:用于诊断和模式识别的新型晶圆缺陷签名
机译:基于微电子测试结构数据的晶片屈服和缺陷密度的建模与估计
机译:图形化的IDDQ签名减少了缺陷级别和良率损失
机译:TestDNA:用于诊断和产量学习的新型晶圆缺陷签名
机译:用于基于诊断的产量优化的数据学习工具和方法。
机译:更正:机器学习方法产生食物过敏的表观遗传标志物:诊断临床反应性的新型13基因签名
机译:使用机器学习模型提取硅晶片中的散装缺陷参数