机译:极限表面光电压法绘制少数载流子扩散长度和重金属污染
机译:电子束感应电流测量β-Ga_2O_3中非平衡少数载流子的扩散长度
机译:单晶硅中少数载流子的扩散长度和寿命的绝对标准
机译:金属污染对少数型载波扩散长度和氧化物电荷的影响
机译:晶体硅的铝吸杂剂可改善少数载流子扩散长度并用于基本扩散机理的研究。
机译:基于金属网透明电极的Cu(InGa)Se2太阳能电池的载流子横向收集长度的数据取决于预白光浸泡过程
机译:使用电子束感应电流(EBIC)测量氮化镓纳米线中少数载流子扩散长度