Sandia National Laboratories, PO Box 5800 MS 0603, Albuquerque, NM 87185-0603;
MEMS; micro-mirrors; stress gradient; residual stress; curvature; SUMMiT~(TM) process;
机译:MEMS双层结构的热诱导曲率和层间剪切应力分析
机译:残余应力曲率的降低和梳状分支的手指增加了MEMS声学传感器的灵敏度
机译:根据振动响应估计双钳位MEMS的残余应力,曲率和边界柔量
机译:Cr / Au MEMS镜面层上应力引起的曲率中的相变与厚度的关系
机译:室内光学无线通信的MEMS镜像和控制
机译:曲率相关的静电场作为模拟基于膜的MEMS器件的原理。回顾
机译:强调镜面抛光1:一种生产非同型镜的技术