机译:Ge(001)衬底上组合外延Ge(001)薄膜的高分辨率X射线衍射研究
机译:用X射线衍射技术确定SOS异质外延薄膜系统中的完整残余应力张量
机译:Si(111)上外延Ce_(1-x)Pr_xO_(2-δ)(x = 0-1)薄膜的温度依赖性还原:程序升温解吸,X射线衍射,X射线光电子能谱和拉曼研究
机译:用于表征组合外延薄膜的收敛光束并联检测X射线衍射系统
机译:银(001)和银(111)上超薄外延铬和氧化铁膜的生长和结构:通过X射线光电子衍射和低能电子衍射完成的综合研究。
机译:X射线衍射数据和分析以支持FeSe和Fe7Se8外延薄膜的相识别
机译:用微聚焦同步辐射X射线对ComnGe组合外延薄膜的结构研究