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机译:用X射线衍射技术确定SOS异质外延薄膜系统中的完整残余应力张量
School of Mechanical and Manufacturing Engineering,The University of New South Wales, NSW 2052, Australia;
rnSchool of Mechanical and Manufacturing Engineering,The University of New South Wales, NSW 2052, Australia;
rnSapphicon Semiconductor Pty Ltd,8 Herb Elliott Avenue, Homebush Bay NSW 2127, Australia;
rnSapphicon Semiconductor Pty Ltd,8 Herb Elliott Avenue, Homebush Bay NSW 2127, Australia;
rnSapphicon Semiconductor Pty Ltd,8 Herb Elliott Avenue, Homebush Bay NSW 2127, Australia;
silicon on sapphire; residual stress; multiple asymmetric X-ray diffraction;
机译:X射线衍射和压痕技术估算陶瓷薄膜的残余应力
机译:薄膜的非环境X射线衍射残余应力分析:追踪纳米尺寸对热弹性常数的影响并确定残余应力的来源
机译:研究近地表区域的复杂残余应力状态:通过X射线衍射图分解评估完整应力张量
机译:确定纳米薄膜上残余应力复杂深度分布的直接方法-残余应力系统的力学
机译:使用X射线衍射分析钨薄膜中的深度轮廓残余应力。
机译:基于水泡试验技术的残余应力薄膜/基体系统表面和界面力学性能同步表征的理论研究
机译:不对称X射线衍射对外延薄膜残余应力评估的测量技术。