Assembly Technology Development/Quality Reliability Intel Corporation, CH5-157, 5000 West Chandler Boulevard, Chandler, AZ 85226-3699;
机译:随机剪切应力和热温下倒装芯片包装中BGA几何参数的敏感性分析
机译:倒装芯片BGA封装中具有增强辐射特性的紧凑型60 GHz相控阵天线
机译:具有低和高T / sub g /底部填充的倒装BGA封装的热变形和应力
机译:机械冲击载荷下BGA倒装芯片电子封装的损伤传播特性
机译:无铅倒装芯片BGA封装的界面可靠性
机译:激光诱导的单芯片倒装芯片封装的正向转移
机译:使用有限元分析的高性能倒装芯片BGA封装(基于有机衬底)的可靠性评估