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Study of device mass production capability of the character projection based electron beam direct writing process technology toward 14 nm node and beyond

机译:基于字符投影的电子束直接写入工艺向14 nm及更高节点的器件批量生产能力研究

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摘要

Techniques to appropriately control the key factors for a character projection (CP) based electron beam direct writing(EBDW) technology for mass production are shown and discussed. In order to achieve accurate CD control, the CPtechnique using the master
机译:展示并讨论了适当控制基于字符投影(CP)的电子束直接写入(EBDW)技术用于批量生产的关键因素的技术。为了实现准确的CD控制,CPtechnique使用了

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