Mech. Nucl. Eng. Dept., Virginia Commonwealth Univ., Richmond, VA, USA;
Mech. Nucl. Eng. Dept., Virginia Commonwealth Univ., Richmond, VA, USA;
Soldering; Finite element analysis; Fatigue; Electronic packaging thermal management; Deformable models; Metals; Boundary conditions;
机译:电子封装焊点疲劳寿命预测的机械模型
机译:组合载荷下电子包装焊点寿命预测方法
机译:使用绕动力学方法预测焊点疲劳寿命
机译:使用FEA和白颌动力学的电子包装焊接联合疲劳预测
机译:微电子焊点热力学疲劳寿命预测的热力学损伤力学理论和实验验证。
机译:使用I型删失数据预测Sn-3.0Ag-0.5Cu焊点的热循环寿命
机译:底填充芯片尺寸封装无铅焊点的热疲劳寿命评价