Nanomaterials Microdevices Research Center Osaka Institute of Technology, Osaka, Japan;
Annealing; Atmosphere; Atmospheric measurements; Nitrogen; Optical diffraction; Optical films; MoOinf3/inf; phase transition; postgrowth annealing effect;
机译:评论“Zr-掺杂的结构,光学和电学性质
机译:铟板诱导的结构相变及其对热退火的堆叠层的电气和光学性质的影响
机译:分子束外延生长硅上外延BaTiO
机译:对结构,光学和电学性质的生成退火效应β -moo
机译:通过分子束外延生长的光学器件的自组装量子点的微观结构和光学性质。
机译:快速热退火对原子层沉积生长Zr掺杂ZnO薄膜的结构电学和光学性质的影响
机译:退火对4H-SiC衬底上作为UV抗反射涂层的Al
机译:用裂解膦分子束外延生长Inp的电学和光学性质