首页> 中文会议>第十四届全国固体薄膜学术会议 >采用晶格异变缓冲层在GaAs上生长的InP外延层性质的研究

采用晶格异变缓冲层在GaAs上生长的InP外延层性质的研究

摘要

采用低压金属有机物化学气相沉积(LPMOCVD)在不同偏角GaAs衬底上通过AlxGa1-x-yInyAs晶格异变缓冲层生长了InP外延层.并用高分辨X射线衍射仪(XRD),原子力显微镜(AFM)以及光致发光(PL)对材料的结晶质量、表面形貌和光学性质进行了表征.结果表明,在15度偏角衬底上采用组分步进的AlxGa1-x-yInyAs缓冲层生长的InP外延层表面形貌更好且发光更强.

著录项

相似文献

  • 中文文献
  • 外文文献
  • 专利
获取原文

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号