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何洋; 孙玉润; 李奎龙; 曾徐路; 董建荣;
中国电子学会;
中国科学院苏州纳米技术与纳米仿生研究所;
砷化镓衬底; 磷化铟外延层; 晶格异变缓冲层; 结晶质量; 表面形貌; 光学性质;
机译:GaAs缓冲外延层上分子束外延生长的(BeTe / ZnSe)超晶格的高分辨率X射线衍射(HRXRD)和透射电子显微镜(TEM)研究
机译:使用变质AlGalnAs缓冲剂通过有机金属化学气相沉积在GaAs衬底上生长的高质量InP外延层
机译:InP上GaAsSb / InP和GaAsSb / InAlAs超晶格的生长和性质
机译:高纯度和高均匀性的VPE生长InGaAs / InP外延层2英寸直径InP基板上
机译:用于砷化铟和磷化铟器件的高电阻率和晶格失配的铟砷磷和铝铟砷磷缓冲层的金属有机气相外延生长和电学表征。
机译:缓冲剂类型对InP(100)衬底上生长的In0.82Ga0.18As外延层的影响
机译:通过液相外延将InP / IngaASP异质结构的外延层生长在异形的INP表面上
机译:alGaInas / Inp和InGaas-Inalas超晶格的mBE生长和性质研究。最终报告,1986年4月15日至1989年12月14日。
机译:使用关键成分分级技术在InP衬底上沉积InGaAs外延层
机译:利用新型GeSi缓冲层在Si衬底上生长GaAs外延层
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