首页> 中文会议>2005第十一届全国可靠性物理学术讨论会 >印制电路板镀通孔应力-应变分布的简化模型

印制电路板镀通孔应力-应变分布的简化模型

摘要

印制电路板中的镀通孔在热循环的环境条件下会发生疲劳断裂,从而丧失电连接的功能.本文对热循环条件下镀通孔的应力-应变分布进行了研究.文章建立了简化的镀通孔空间轴对称物理模型,结合FEM分析结果对热应力条件下镀通孔的几何方程、平衡方程以及物理方程进行求解,建立了解析形式的应力-应变分布简化模型,通过FEM分析结果验证了模型的正确性和有效性,该模型可进一步用于评估镀通孔的疲劳寿命.

著录项

相似文献

  • 中文文献
  • 外文文献
  • 专利
获取原文

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号